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平面度/平坦度/平滑度/反り度テスター

TDM

大規模


平面度/平坦度/平滑度/反り度テスター
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製品概要

TDM–LS(大スケール)平面度/平坦度/平整度/反り測定器/反り解析:

TDM–LS(大スケール)は、プロセス開発、故障解析、信頼性、品質管理の分野で幅広い用途に対応する多機能機器です。反り測定の既存のニーズに対して完全な製品ソリューションを提供するために、TDM Large ScaleはTDM Compactを補完します。初代TDMは比較的小さな領域(最大150x150 mm)の表面解析用に設計されましたが、TDM Large Scaleは最大400x400 mmの領域の表面検査を可能にします。これにより、基板、ウェーハ、その他の大型物体の熱機械的解析が可能になります。

絶対3D地図作成

TDMは温度プロファイル下での反り解析のための特許取得済みツールです。TDMはフリンジプロジェクション技術(プロジェクションモアレとも呼ばれる)を使用し、非接触で全視野の3Dトポグラフィを1.5µmという高解像度で取得します。TDM-Compactは最大600 mm x 430 mmのデバイスの完全な絶対3D地図を取得します。同時に、その強力な加熱および冷却機能により、試料に対してほぼ任意の温度プロファイルを実現します。統合ソフトウェアパッケージは、結果を3Dプロット、ベクトル図、等角投影図、ユーザー定義のプロファイルライン(例:対角線プロット)に沿った2Dプロファイルとして表示するツールを提供します。

大きなサンプルサイズ対応:

リフロープロファイル適合性のための部品認証。

部品の硬化プロセス最適化。

JEITA-ED-7306、IPC-9641、JEDEC 22B112A、およびIPC/JEDEC J-STD-020D規格に準拠した部品およびPCBの特性評価。

高速エージングテストプロファイル、ON/OFFサイクルなど。

大スケールの利点:

優れた温度均一性のための独立制御可能な上下ヒーターバンク。

高速加熱および冷却ランプ。

微細特徴解析(例:はんだボール/バンプ、リード、ピンなどの測定)およびより正確な反り測定のための超高解像度カメラ。

簡単なサンプル装填のためのサンプルドロワー。

製品の特徴

製品仕様

イメージング : 直接サンプル照明、非接触測定
機能 : トポグラフィ解析:温度のz(x,y)関数
最大サンプルサイズ : 600 mm x 430 mm
オーブンサイズ : 400 mm x 400 mm
視野 (x,y) : 30 x 30 から 400 x 400 mmまで調整可能なズーム
視野深さ (z) : 最大25 mm
CCDカメラ解像度 : 5 megapixel
精度 : ±1マイクロンまたは測定値の2%のいずれか大きい方
(x,y) 解像度 : 視野により15 μmから200 μmまで
温度範囲 : 室温から300°Cまで連続測定可能
加熱方法 : 赤外線ランプ - 上下両面
加熱速度 : 最大+2.5°C/秒(サンプル依存)
冷却方法 : 内部換気
冷却速度 : 120°C以上で最大-2°C/秒
設置面積 : 200 cm x 150 cm x 250 cm
重量(約) : 500 kg
ユーティリティ : 電力:380 VAC、50 Hz、3相、排気量2000m3/h。

製品の利点

適用分野

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